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Zeta电位及纳米粒度分析仪 |
仪器型号 |
SZ-100Z |
生产厂家 |
Horiba |
主要配置 |
Horiba粒度分析检测器 zeta电位分析 |
主要技术参数
粒径测量范围:0.3nm~8000nm;
检测精度(100nm标准物质):±2%;
Zeta电位测量范围:-200mV~ +200mV;
散射角:90°,173°;
光源:半导体泵浦固体激光器,532nm。
仪器功能特点
测定胶质粒子、纳米粒子、高分子、胶束、核糖体、纳米囊等的粒径分布;分析乳液、釉浆、颜料等高浓度样品以及胶束、聚合物等低浓度样品的Zeta电位。
应用范围:
● 该仪器可被广泛应用于陶瓷粒子、金属纳米粒子、碳纳米材料、制药、病毒、颜料和涂料、化妆品、聚合物、食品和CMP等各种纳米级、亚微米级粒子粒径检测,以及胶体、乳液等的Zeta电位分析。