主要技术参数

1. 粒径测量范围：0.3nm~8000nm；

2. 检测精度（100nm标准物质）：±2%；

3. Zeta电位测量范围：-200mV~ +200mV；

4. 散射角：90°，173°；

5. 光源：半导体泵浦固体激光器，532nm。

仪器功能特点

1. 测定胶质粒子、纳米粒子、高分子、胶束、核糖体、纳米囊等的粒径分布；分析乳液、釉浆、颜料等高浓度样品以及胶束、聚合物等低浓度样品的Zeta电位。

应用范围：

● 该仪器可被广泛应用于陶瓷粒子、金属纳米粒子、碳纳米材料、制药、病毒、颜料和涂料、化妆品、聚合物、食品和CMP等各种纳米级、亚微米级粒子粒径检测，以及胶体、乳液等的Zeta电位分析。